面向器件选型、损耗建模和 AI 辅助工程流程的可复用半导体与磁性元件数据，并始终保留测试条件和数据来源。
电气与磁性记录会在同一个变换器计算中相遇，而不是停留在彼此割裂的数据手册摘要里。
数据手册面向逐个查看器件的工程师；这些记录则面向需要比较成千上万个工作点的求解器。
Coss(V)、Pv(f, B̂, T)、µ(Hdc) 与 Zth(t) 保留决定设计能否闭合的真实行为。
偏置、温度、栅极电阻、回路电感和激励波形随每个数值保存，确保比较有意义。
数字化与实测记录均保留来源、版本、夹具和不确定度，便于后续评审。
开关能量、磁芯损耗和热网络围绕工作点或任务剖面联合求解。
结构化曲线和曲面可直接进入脚本、优化器与设计 Agent，无需再次抄录。
尚未收录的器件可以按照相同数据结构完成表征，让私有与公开工程流程保持一致。